電子元器件試驗室成立于1988年，主要承擔軍品科研、生產所需的電子元器件的二次篩選工作。擁有一支多年從事電子元器件篩選、測試的專業技術團隊。于2013年正式成立為中國兵器工業集團公司電子元器件可靠性檢測中心。
擁有集成電路高溫動態老煉系統、電源模塊老煉試驗系統、光電耦合器高溫老化系統、分立器件綜合老煉系統、高溫反偏老煉系統、電容器高溫老煉系統、大功率晶體管試驗系統、集成電路測試系統、DC/DC參數測試系統、顆粒碰撞噪聲檢測儀、氦質譜檢漏儀、溫度沖擊試驗箱、離心機等60多臺專業測試、試驗設備。
具有對數字集成電路、模擬集成電路、部分存儲電路、接口電路、DC/DC；各類二極管、晶體管、場效應管、光電耦合器；鉭電解電容器、鋁電解電容器、瓷介電容器；各類常規電阻器、電位器、電感器、繼電器等元器件的檢驗能力，可進行高溫貯存、低溫貯存、溫度沖擊、三溫測試、電老煉試驗、密封性檢查、恒定加速度、PIND等試驗。
試驗及測試符合以下標準:
GJB33A-97 半導體分立器件總規范
GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法
GJB265A-2004 合成電位器通用規范
GJB63C-2015 固體電解質鉭固定電容器總規范
GJB244A-2001 有質量等級的薄膜固體電阻器總規范
GJB1042A-2002 電磁繼電器通用規范
GJB1865A-2015 非線繞精密電位器總規范
GJB2828-97 功率型線繞固體電阻器總規范
GJB733B-2011 有失效等級的非固體電解質坦固定電容器總規范
GJB3516-99 坦電解電容器總規范
GJB675A-2002 有和無可靠性指標的模制射頻固定電感器通用規范
GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
GJB150.1A-2009 軍用設備實驗室環境試驗方法 第一部分 通用要求
GJB150.3A-2009 軍用設備實驗室環境試驗方法 第三部分 高溫試驗
GJB924A-2012 2類瓷介質固定電容器通用規范
GJB1312A-2001 非固體電解質坦電容器總規范
試驗資質：
試驗能力:
1、溫度試驗：溫度范圍－70℃～170℃
2、功率老煉試驗：每工位最大功率300W、最大電流10A
3、電容器高溫負荷試驗：最大額定電壓1200V
4、分立器件反偏試驗：最大試驗電壓1200V
5、分立器件功率老煉試驗：輸出80A/50V，
6、數字、模擬集成電路的高溫動態老煉試驗：二級電源1.0V-±40.0V，輸出電流30A，16個獨立試驗區。
7、光電耦合器高溫老化系統試驗：輸出Vc 20A/60V，Vb 64A/12V，32個獨立試驗區。
8、電源模塊老煉系統：30A/40V ，32個獨立試驗區
9、密封性試驗
10、顆粒碰撞噪聲試驗（PIND）
11、恒定加速度試驗
測試能力:
1、集成電路的測試：數字集成電路、模擬集成電路、數模混合集成電路，主要包括DSP、CPU、存儲器、接口電路、數字邏輯器件、運算放大器、模擬開關、時基電路等的測試。數據頻率可達100MHz，最大管腳數128。
2、DC/DC模塊的測試：DC/DC測試系統可對輸入功率600W、輸出負載80A,輸出電壓50V的電源模塊進行各項指標的測試。
3、對分立器件進行各項指標測試：正向測試電流200A，反向測試電壓2000V。
4、光電耦合器各指標測試：正向測試電流200A，反向測試電壓2000V。
5、電磁繼電器進行各項指標測試：40V，3mS-3000S
6、電阻、電容、電感等元件的測試：測試精度達到0.02％，測試頻率2MHz。
“千里之堤，潰于蟻穴”，嚴謹的工作作風保證了電子元器件篩選的質量，為電子產品的可靠性起到了重要的作用。電子元器件試驗室經過二十九年的成長，積累了豐富的實踐經驗及技術知識，培養了軟件開發、測試、試驗技術研究等各方面的專業人才，形成了一支具備專業技術水平的團隊。電子元器件試驗室嚴格遵守 “質量第一、科學公正、依法檢測、規范服務”的承諾，為兵器、航空、航天、電子等行業的軍工企業、科研院所提供測試、篩選、軟件開發和技術指導等優質服務。
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